半导体测试仪 分立器件测试仪 器件参数测试仪 半导体测试仪

基本配置  

   1、主极电压： 0---2000V

   2、电压分辨率：1mV  

   3、主极电流： 0---50A。

      可扩展到：100A,200A,400A ，500,600A,800A,1000A，1300A。

   4、电流分辨率：1nA   可扩展为10pA 

   5、测试精度：0.2+2LSB

   6、测试速度：0.5MS/参数

系统测试功能

HUSTEC-5000半导体分立器件测试系统是专为测试半导体分立器件和大功率半导体模块器件而研发设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力，能够真实准确测试以下类型的半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列： 

测试参数表

    漏电参数： IR、  ICBO、 LCEO/S/X、IDSS/X、 IDOFF、 IDRM、 IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、 IGSSF、 LGSSR、IGSS、IGKO、 IR(OPTO)

    击穿参数： BVCEO   BVCES、BVDSS、 VD、  BVCBO  VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、  VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、 BVGSS、 BVGKO

    增益参数： hFE、CTR、gFS、VGSTH、VGETH

    导通参数:  VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)、VGSTH、VGETH、VTM、VSD、IDON、VSAT、IDSS、IDON、 Notch = IGT1，IGT4、ICON、VGEON、VO(Regulator)、IIN(Regulator)

    关断参数:  VGSOFF

    触发参数:  IGT、VGT

    保持参数:  IH、IH+、IH-

    锁定参数： IL、IL+、IL-

    混合参数:  RDSON、GFS、Input Regulation、Output Regulation

    间接参数:  IL

升级扩展性强，通过选件可提高电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A
采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定的300uS
被测器件引腿接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试，确保被测器件不受损坏
真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导，其结果与器件实际值偏差很大）
系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排除故障
二极管极性自动判别功能，无需人工操作